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高光谱相机在色差检测中的应用:铁片Lab数据分析报告

更新时间:2026-03-11点击次数:33
图片

01
实验方案


铁片Lab数据分析报告

本次颜色测试样品为铁片:

测试目的:测试两块铁片之间的颜色差异

因第五组铁片样品未标记标样,因此未进行测试

同一组样品,左侧为试样,右侧为标样,如图所示


图片2.png
02
测试设备介绍



本次测试采用高光谱颜色测量设备进行测量

高光谱相机覆盖400~1000nm波长范围

采用线性推扫成像方案

照明光源采用卤素光源

设备采用暗室结构设计,样品放置暗室载物台上

Lab计算采用2°视角、D65光源参数

样品放置水平位移台上,匀速平移

3.png
设备规格参数
光谱范围
400~1000nm
光谱分辨率
≤2.8nm
光谱波段数
300
F数
F/2.6
空间像素数
480
探测器类型
CMOS
探测器接口
GigE
有效位深
12bits


图片3.png
03
光谱曲线

在样品上随机取点,各样品点反射率光谱如右图所示


图片4.png

04
Lab值


铁片1# 


序号1为试样,序号2作为标样,使用CIE2000计算得到Lab值和ΔE值如下图所示:

测试结论OK表示该框选区计算出的ΔE与设置的ΔE阈值相比较<0.5

测试结论NG表示该框选区计算出的ΔE与设置的ΔE阈值相比较>0.5


L
50.1991
a
4.29864
b
9.85415
AE_Lab
0
结论
OK
51.4572 
4.47703 
9.63047 
0.700039 
NG
50.1991 
4.29864 
9.85415 
OK
图片5.png


铁片2#


序号1为试样,序号2作为标样,使用CIE2000计算得到Lab值和ΔE值如下图所示:

测试结论OK表示该框选区计算出的ΔE与设置的ΔE阈值相比较<0.5

测试结论NG表示该框选区计算出的ΔE与设置的ΔE阈值相比较>0.5


L
50.1991
a
4.29864
b
9.85415
AE_Lab
0
结论
OK
51.4572
4.47703
9.63047
0.700039
NG
50.1991
4.29864
9.85415
0
OK
图片7.png


铁片3#


序号1为试样,序号2作为标样,使用CIE2000计算得到Lab值和ΔE值如下图所示:

测试结论OK表示该框选区计算出的ΔE与设置的ΔE阈值相比较<0.5

测试结论NG表示该框选区计算出的ΔE与设置的ΔE阈值相比较>0.5


L
43.2729
a
39.6284
b
29.8284
AE_Lab
0
结论
OK
43.8508 
39.2471 
29.1051 
0.419627 
OK
43.2729 
39.6284 
29.8284 
OK
图片13.png


铁片4#


序号1为试样,序号2作为标样,使用CIE2000计算得到Lab值和ΔE值如下图所示:

测试结论OK表示该框选区计算出的ΔE与设置的ΔE阈值相比较<0.5

测试结论NG表示该框选区计算出的ΔE与设置的ΔE阈值相比较>0.5


项目
标准值
L
38.1013
a
60.2692
b
37.6493
AE_Lab
0
结论
OK
1.00000 
38.84430 
60.81640 
39.15110 
0.68800 
NG
2.00000 
38.10130 
60.26920 
37.64930 
0.00000 
OK
图片14.png
05
Lab值


通过CIE2000计算出的Lab和ΔE可看出:

1#、2#样品,试样和标样之间的L值相差较大,a、b值相差较小,即试样比标样偏亮、偏红、偏蓝一些

3#样品,试样和标样之间的L值、a值、b值均相差较小,即试样比标样偏亮、偏绿、偏蓝一些

4#样品,试样和标样之间L值、a值相差较小,b值相差较大,即试样比标样偏亮、偏红,偏黄一些

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